필옵틱스(대표이사 한기수)는 ‘한국디스플레이산업전(IMID) 2018’에 참가해 3D 검사기(3D Surface Inspection)를 전시하여 참관객들의 이목을 끌고 있다고 26일 밝혔다. 필옵틱스의 3D 검사기는 패턴의 위상차를 이용한 측정 기술을 활용해 대면적 디스플레이와 웨이퍼(Wafer)의 균열(Crack)과 결함(Defect)을 빠른 시간 내에

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